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產品簡介
半導體粉末電阻率測試儀,粉末電阻率儀 型號；HAD-2722概述HAD-2722型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。儀器組成： 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大分組成。
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2019-10-292025-08-042018-08-012019-04-08| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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半導體粉末電阻率測試儀,粉末電阻率儀 型號；HAD-2722
概述
HAD-2722型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成： 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大分組成。
主機 是整個系統電氣控制顯示核心分，主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統單元以及壓力厚度顯示單元組成。
粉末測試臺 是連接測試主機，用來裝夾半導體粉末（含分子粉末和金屬粉末等），行壓力施加（壓片），并同步行電阻率測試的裝置（以下簡稱測試臺）。
測試臺為粉末標準容器、電、加壓機構、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。
優勢征：測試臺，符合標和行業規范，內*，并獲家。有兩款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關標和行業標準。采用際通用的電、電壓四端子測量法（儀器電源和電壓表兩個單元分別從立回路連至電同時和樣品接觸），可以消除電與連接導線導通電阻產生的誤差，克服了傳統的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性也好。
四探針法測試臺符合符合GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正材料》
中關于粉末電阻率測試的原理和規范，參照GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直四探針法》并參考美A.S.T.M 標準。
四探針法同步壓力連續測試粉末“電阻率-壓強曲線，”
內行業*，行業粉末電阻率標準測試方式。
儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。
壓力機構采用手動操作，壓力（壓強）平穩可調、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力（壓強）值和樣本度。故本測試臺可邊加壓邊同步測試電阻率，可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線；也可以單作為粉末壓制成片的具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關參數！
本測試儀配有成套PC軟件，故不但可以單（脫機）操作，還可以連接PC軟件，自動保存當前測試數據、查詢并統計分析歷史數據、打印測試報告等！
本儀器具有測量度，操作簡便、穩定性好，重復性好，機多用使用方便等點。也是區別于以往舊款測試臺新點！ 本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗和分析固態和粉態樣量的種重要優良具。
三、參數
1. 電阻率測量范圍、分辨率
電 阻 率： 15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
電阻率量程劃分及誤差等
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
大拓展量程 | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | |||||
基本誤差 | ±2%讀數±4字 | ±1.5%讀數±4字 | ±0.5%讀數 ±2字 | ±0.5%讀數 ±4字 | ||||
3. 數字電壓表：
⑴量程：10mV ～ 100 mV，自動
⑵顯示: 4位有效數字，大顯示999.9 小數點、單位自動顯示
4. 數控恒源
電輸出：直電0.1µA～1000mA可調，系統自動步調整。
5.粉末測試臺分參數：
（1）、試樣成份：成份不限，但不得含有對測試臺和電有腐蝕作用的成份。
（2）、試樣粒度：標準以40目以下—60目以上（標準篩網），般其他粒度也可！
（3）、試樣容器：內徑：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
度：0～20mm可調,帶度傳感器監測，測量誤差：±0.05mm。
（4）、測試壓強
標準壓強：P0=4Mpa±0.05Mpa。
壓強量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可調。
（5）、壓力機構采用手動操作、壓力平穩可調。
四位有效顯示數00.00～20.00MPa，分別率±0.01 MPa。
6.測試儀外形與重量
前寬×長×總=250mm×220 mm×540mm
重 量=10Kg
7. 電源：
耗：< 10W
輸入:220V±10% 50Hz
8. 本儀器作條件為：
溫 度： 0-40℃
相對濕度： ≥60%
作室內應無強電磁場干擾，不與頻設備共用電源
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