應(yīng)用概述：射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的種
無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、
未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有的性，即檢驗缺陷的直觀性、準(zhǔn)確性和可
靠性，而且，得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。
使用原理：根據(jù)被檢件與其內(nèi)缺陷介質(zhì)對射線能量衰減程度的不同，使得射線透過件后
的強(qiáng)度不同，使缺陷能在射線底片上顯示出來。
應(yīng)用范圍：對非金屬、輕金屬、鑄件、各種合金、壓力容器等行 X 射線無損檢測

輻射方式：定向輻射 光管材質(zhì)：陶瓷光管